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反向解剖芯片并比较其电路版图与目标IP核的差异，是目前鉴定IP核侵权的主要手段之一。本文主要是研究如何将目标芯片解剖出来的照片进行分割，以方便后续的比较处理。随着IP核复杂度和芯片集成度的快速提高，反向解剖目标芯片后，需要分割处理的解剖照片的数量常高达几万甚至几十万张。而且针对集成电路解剖照片这种特殊的图片，单独采用某种方法是很难将其分割出来，照片分割算法既要考虑分割的准确性，又要尽可能提高处理速度。如何既有效又高速地处理解剖照片，是一项充满挑战的课题。本文基于经典的阈值法和区域生长法进行了算法改进，并结合IP核的GDSII文件信息对解剖照片分割进行指导，在区域生长中只对解剖照片中的背景部分进行种子点选取，加快了背景区域的生长，实现了将解剖照片中的目标分割并形成二值化图片。实验结果表明本文提出的改进方法相比经典最大类间方差法和区域生长法，分割的准确度和运行速度均有了显著提高。