软差错率相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

软差错率相关论文

考虑偏置温度不稳定性的软差错率分析

纳米工艺下,老化效应与软差错共同引发的集成电路可靠性问题至关重要。该文分析偏置温度不稳定性(BTI),包括负偏置温度不稳定性(NB......

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集成电路偏置温度不稳定性软差错率关键电荷值延迟 Integrated Circuit （IC） Bias Temperature Instabilit

BTI作用下三因素对集成电路软差错率的影响

在纳米工艺下,老化效应与软差错共同引发的集成电路可靠性问题至关重要,目前,考虑多个因素分析老化效应对软差错率影响的工作相对......

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偏置温度不稳定性软差错率延迟单粒子瞬态脉冲宽度关键电荷

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