互连测试相关论文
随着集成电路的规模不断增大,数据处理量日益增多,片上系统(System-on-Chip, SoC)出现了一些与总线相关的问题,如扩展性差、通讯效......
随着电路技术进入超大规模集成(VLSI)时代，系统复杂度的不断提高和工艺技术的持续发展都使得电路节点的物理可访问性正逐步被削弱，测......
基于边界扫描测试技术的故障诊断突破了传统的管脚接触式检测理论和手段,可以解决其他技术无法完成的超大规模集成电路的测试问题,......
SATA2.0接口芯片主要应用于SATA硬盘中，该硬盘是目前主流的存储器。保证SATA2.0与其他芯片之间的正确互连，使得互连故障在测试中被发......
当电路模块利用传统的测试方法，如示波器、逻辑分析仪及在线测试仪等无法访问待测试信号时，边界扫描技术则对电路模块的完整性提......
随着微电子技术的飞速发展,集成电路的复杂度和集成度不断提高,传统的测试方法已经很难满足新的测试要求,尤其是混合电路的广泛应......
学位
