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部分耗尽SOI MOSFET NBTI效应研究

NBTI效应严重影响了器件的高温可靠性,本文对基于1.2μm工艺的PDSOI器件进行了NBTI效应研究.通过加速应力试验得到了NBTI效应对PDS......

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负偏压温度不稳定性 PDSOI 快速测试方法阈值电压寿命预测可靠性

深亚微米抗辐照PDSOI nMOSFET的热载流子效应

基于中国科学院微电子研究所开发的0.35μm SOI工艺,制备了深亚微米抗辐照PD-SOI H型栅nMOSFET。选取不同沟道宽度进行加速应力实......

期刊

PDSOI nMOSFET 热载流子效应

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