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针对当前MPC控制器性能评价方法无法定位性能下降源的问题，提出一种基于子空间距离聚类的控制器性能诊断新方法。新方法引入特征向量子空间描述各性能类别的特征，建立子空间距离来度量当前实时数据和已知类别数据的相似性，以距离为度量函数确定监控数据对应的类别，定位引起MPC控制器性能下降的原因。在WoodBerry塔上的仿真结果验证了新方法的有效性。