用快速退火形成W_5Si_3,/GaAs肖特基接触

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在超高真空条件下,GaAs衬底上淀积钨、硅多层夹层膜,用快速白光辐照形成单一化学相的W_5Si_3肖特基接触。其势垒高度好于0.7V。按Si/W=0.6淀积单层硅、钨膜,能观察到的硅化物相是WSi_2。文中还讨论了样品结构方式对钨硅化物生成相的影响。 Under ultrahigh vacuum conditions, tungsten and silicon multilayered interlayer films were deposited on GaAs substrates, and W_5Si_3 Schottky contacts with a single chemical phase were formed by rapid white light irradiation. Its barrier height is better than 0.7V. Si / W = 0.6 deposited monolayers of silicon, tungsten film, the observed silicide phase is WSi_2. The effect of sample structure on the formation of tungsten silicide is also discussed.
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