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目的建立利用半导体探测器阵列检测多叶准直器（MLC）叶片定位误差的方法，用于MLC的日常质量保证。方法在MapCheck半导体探测器阵列上，相邻行探测器是错开半个探测器间距分布的。针对这种分布特点，设计了台阶式叶片位置模式，代替胶片测量常用的篱笆式（picketfence）叶片位置模式，作为叶片位置参考模式。在参考模式的基础上，人为引入不同大小的叶片位置误差，得到一组新的叶片位置模式——叶片位置校准模式。依次照射参考模式和校准模式，得到每一个探测器测量剂量与叶片位置误差的关系曲线。该曲线作为测量叶片位置误