【摘 要】
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日本富士通公司在世界上首次利用光外延技术试制LSI获得成功.光外延技术采用热与紫外光照射并用,在比老方法低400℃的低温条件下生长Si薄膜晶体.因为温度很低,衬底几乎不受损
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日本富士通公司在世界上首次利用光外延技术试制LSI获得成功.光外延技术采用热与紫外光照射并用,在比老方法低400℃的低温条件下生长Si薄膜晶体.因为温度很低,衬底几乎不受损伤,所以晶体中很少产生缺陷,使之可用于微细加工.采用这项新技术生长Si薄膜时,以乙硅烷作Si源,乙硅烷气体在吸收汞灯紫外线后产生
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