Si离子注入对SIMOX SOI材料抗总剂量辐照性能的影响(英文)

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为了提高SIMOX SOI材料抗总剂量辐照的能力,采用硅注入绝缘埋层后退火得到改性的SIMOX SOI材料.辐照前后,用pseudo-MOSFET方法测试样品的ID-VG特性曲线.结果表明,合适的硅离子注入工艺能有效提高材料抗总剂量辐照的能力. In order to improve the capability of SIMOX SOI to resist the total dose irradiation, a modified SIMOX SOI material was annealed by implanting silicon into insulating buried layer.The ID-VG characteristic curves of samples were tested by pseudo-MOSFET method before and after irradiation.The results show that, The appropriate silicon ion implantation process can effectively improve the material against total dose irradiation ability.
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