基于NI图像处理器的光学头光斑测试系统研究

来源 :武汉工程大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jupming_snoopy
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本论文源自光谷高清科技公司NVD光学头生产线品质检测的需求。由于光学头光斑品质的好坏对光盘驱动器精确快速存储及读取数据有着极其重要的影响,因此对光斑质量进行评价成为测评光学头性能的重要性能指标之一。光学头所发射出来的激光光斑属于微光斑,在光盘存储系统中,激光器所发射出的激光经由光学头中光学系统被聚焦成1微米左右大小的光斑对信息进行读写,大大提高了光存贮器的存贮密度。由于光盘存贮器的存贮量,可靠性及信噪比受激光光斑外形尺寸、能量分布的影响很大。所以,光斑品质的好坏直接影响到激光头是否能快速准确的从光盘上读取和写入信息。论文以研究光学头光斑性能测试为目标,利用Labview和NIVision来实现光学头激光光斑信号的采集、光斑图像的处理与分析、光斑特性参数的提取及显示,本测试系统主要由测试系统平台和测试系统软件两大部分组成。(1)光学头光斑测试系统平台,主要分成两个部分:①激光器驱动电路;②光学头机械调整平台。(2)光斑测试系统软件部分,主要采用虚拟仪器技术建立人机交互界面,对采集到光斑进行相应的灰度变换、去噪、分割、提取光斑边界等处理,然后选取算法在处理后的品质较高的图像中提取光斑特性参数:中心位置,半径大小,椭圆度、光强分布的三维和伪彩显示。通过对提取后的参数来判断光学头光斑的性能指标是否符合出厂要求。将光斑分析仪与本文所研发的系统所测得的一组光学头光斑的检测结果进行对比、分析,可以看出本文的基于Labview编辑平台所构成的光学头光斑测试系统能够更加方便、可靠、快速、稳定,基本满足了光学头生产线上品质检测的需求。由于系统拓展性和灵活性较好且成本低廉,便于检测人员根据现场实际检测情况调整检测项目,缩短了系统开发周期的优势,为光学头光斑检测系统进入工业实际应用打下了基础。
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