半导体激光器是光纤通信中的关键器件。半导体激光器的光谱和频谱测量，以及如果提高半导体激光器的光谱频谱特性，是一直以来研究的热点。本论文的主要工作围绕着强度调制半导体激光器的光谱分析技术，以及光注入改善激光器光谱频谱特性展开的。　　 半导体激光器的频率响应和啁啾系数，是影响其传输特性的两个最重要参数。传统的频率响应和啁啾系数测量，主要是使用网络分析仪和高速探测器进行的。本文研究了只用光谱仪和微波源，测量激光器的频率响应和啁啾系数的方法。首先，我们测量高速调制激光器的光谱，获取其主峰和一阶边带的强度，从而测得其频率调制系数，再变更调制频率，获取其频率响应曲线；随后，我们将激光器进行高速调制，在光谱仪上测量其主峰、一阶和二阶边带的强度，从中获取其强度调制和频率调制系数，进而测得啁啾系数。由于该方法没有使用高速探测器，简化了测量装置。且其精确程度和网络分析仪测出来的符合的很好。本文还开发了一种图解方法，可直观的测得激光器的啁啾系数。　　 光注入半导体激光器会改善其高频特性，这是由于注入光改变了激光器内部的载流子分布。我们将单模激光分别注入DFB和FP激光器，发现其频率响应和调制带宽都得到了改善，FP激光器的边模抑制比也得到了改善。实验中我们还发现，注入光的波长对频率响应影响很大，功率对频率响应影响较小，偏振态对频率响应的影响很小。实验证实模式拍频和注入锁定都会改善激光器的频率响应，并从光谱和频谱方面进行了解释。