本论文主要介绍了中国散裂中子源(CSNS)一期建设工程中3He管读出电子学样机系统的研制。　　 在高通量粉末衍射仪中，采用了3He正比管作为二维位置灵敏探测器进行中子探测，而电子学系统作为3He正比管的后续读出电子学，从3He正比管的两端将信号读出，进行处理，判定中子到达3He正比管的时刻与位置，并将获取的时间与位置信息送到后续在线系统，提供给用户。　　 整个读出电子学系统有两种工作模式：校准刻度模式和在线取数模式。校准刻度模式下，可对整个电子学系统进行电路故障诊断及各项性能指标测试。在线取数模式下，电子学系统接收探测器输出信号，对其进行滤波、成形及放大后，送FADC进行模数转换。数字化后的数据经处理得到信号所携带的电荷及时间信息。电荷测量部分采用寻峰法求出电荷值，时间测量部分则采用简单计数方法来实现。　　 整个电子学系统的数据处理采用了流水线结构，数据处理及逻辑控制都是通过FPGA来实现的。数据读出采用了VME总线的CBLT读出方式，另外还有一个USB接口作为辅助接口，可用于配置FPGA及实现简单的数据读写功能。MQ插件上的VME总线接口及USB总线接口读写逻辑均是由FPGA控制的。　　 在校准刻度模式下，对整个电子学样机系统进行了各项性能指标的测试，其结果满足系统设计要求。　　 此外，论文还简要介绍了CSNS中的另一个电子学系统--基于GEM的中子束线监测器--的研制情况，并给出了系统测试结果。