随着微电子技术的飞速发展，芯片结构规模日益增大，芯片封装却越来越小，传统的使用探针或针床对芯片通过物理接触进行测试的方法已经难以满足测试要求。边界扫描测试技术提供了一种标准的可测试性方法，解决了传统的测试方法对芯片引脚的过分依赖，同时能够支持芯片级、板级和系统级全方面的测试。　　USB接口已经逐渐成为各种电子设备的主流接口，它支持的最高传输速率达到了480Mbit/s，并且结构简单，即插即用，支持热插拔，总线供电，使其在测试领域迅速发展起来。基于USB2.0的边界扫描测试控制器采用Cypress公司的CY7C68013A芯片作为接口电路的核心芯片，采用BULK传输方式，端点缓冲设置为双倍缓冲。接口电路负责与主机进行通信，接收并且解释上位机发送JTAG信号。上位机采用VC++编程，实现了边界扫描测试控制器的完全软核化，上位机负责读取测试任务文件，识别关键字，根据IEEE1149.1标准中的16位状态图产生满足具体测试任务的时序，设计的边界扫描测试控制器有两条扫描链，能够支持单链测试或双链测试。　　利用USB2.0接口和上位机组建了边界扫描测试系统，通过对被测电路板进行测试验证，测试结果表明，基于USB2.0的边界扫描测试控制器能够能有效的支持边界扫描的基础测试、INTEST测试和EXTEST测试。由于采用VC++上位机编程，使基于USB12.0的边界扫描测试控制其具有良好的扩展特性和较低的硬件开销，具有较高的性价比，具有良好的实用性和应用前景。