【摘 要】
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该文以α-AlO作为具体研究对象,利用MARS-5微波高压消解系统（美国CEM公司）和Vista Axial CCD Simultaneous ICP-OES Spectrometer（美国瓦里安公司）在微波消解与端视ICP-OES联作测
【出 处】
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中国科学院研究生院 中国科学院大学
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该文以α-Al<,2>O<,3>作为具体研究对象,利用MARS-5微波高压消解系统（美国CEM公司）和Vista Axial CCD Simultaneous ICP-OES Spectrometer（美国瓦里安公司）在微波消解与端视ICP-OES联作测试杂质元素方面做了较系统的研究工作.该文采用沸点较低,纯度高、粘度小,适用于痕量元素分析的HCl或HNO<,3>成功地溶解了α-Al<,2>O<,3>样品,并系统讨论了样品相的组成、样品量、试剂量与溶要时间之间的关系,给出了微波消解功率-温度-压力-时间曲线,还就两种不同的溶样方式所得到的样品空白,谱线强度,仪器检出限等进行了对比.该文还系统讨论了端视ICP-OES的性能特征及其应用.并根据α-Al<,2>O<,3>样品测试工作的实际情况,在端视ICP-OES中酸性溶剂对测试结果的干扰,仪器工作条件的优化,Al基体干扰及Sc内标校正Al基体干扰等方面做了一系列的研究工作.建立了采用HCl微波消解α-Al<,2>O<,3>和端视ICP-OES测定其杂质元素的较为完整的分析方法,测试结果与常规溶样ICP-OES测试及GFAAS测试所得结果进行了对比,两者基本一致.
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