论文部分内容阅读
采用砷化镓场效应结构的赝配高电子迁移率晶体管(PHEMT)技术和基于硅工艺的CMOS电荷泵技术,研制开发的六位数字控制衰减器,可采用串/并控制方式,无需外加隔直电容,具有衰减精度高,承受功率大,线性度高等特点。产品由GaAs PHEMT0.5um标准工艺线和CMOS高压标准工艺线加工。测试结果表明,在0.01~4.0GHz带内,插入损耗≤2.8dB@4GHz,带内输入输出驻波比≤1.5,衰减精度在±(0.2dB+3%)以内,1dB压缩功率点达到了29dBm,IP3超过了+54dBm。