论文部分内容阅读
采用非真空氦质谱累积法进行航天器密封系统总漏率测试时,需要检漏容器在大气环境下对泄漏出的氦气进行收集,以便通过一定时间内氦气在检漏容器内的浓度变化得到系统总漏率[1～7],因此检漏容器的密封性、环境氦浓度的变化都是总漏率测试的重要影响因素.目前国内航天器进行非真空氦质谱累积法检漏时,一般要求检漏容器泄漏指标[2、6、7] 为检漏容器内充气2kPa、24h 后压降值不大于200Pa,而通过最新研究,在正常大气环境下(氦浓度约为5ppm),检漏容器内充气2kPa、压降值不大于2kPa/24h 时,检漏容器的泄漏对总漏率测试结果的影响不大于5％[1].在航天器总装厂房中,多型号并行总装和测试的现状会造成因某型号排放氦气而引起测试环境氦本底的异常升高.过高的氦本底使氦气通过检漏容器上的漏孔进入检漏容器内部,造成航天器总漏率测试数据偏高甚至超出设计指标的假象.为研究环境氦浓度的异常升高对航天器密封系统总漏率测试的影响,特设计一套试验系统,主要由小型密封容器、氦罩、标准漏孔、氦质谱检漏仪和测试计算机等组成.小型密封容器可收集有源漏孔泄漏出的氦气,用于模拟航天器检漏容器；有源漏孔自带气室,可向小型密封容器内持续漏出氦气,用于模拟航天器密封系统在检漏容器内的泄漏；无源漏孔安装在小型密封容器上使小型密封容器获得不同的漏率,用于模拟检漏容器的不同泄漏状态；氦罩包裹小型密封容器,可向内注入氦气,模拟检漏容器外的高氦环境.试验系统原理图见图1.本研究通过理论分析和试验验证,得到以下结论：当检漏容器内充气2kPa、压降值不大于2kPa/24h 时,航天器置于密封容器内进行总漏率测试过程中,环境氦浓度异常升高不超过15ppm 时,因环境氦本底升高对总漏率测试的影响不大于10％.