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军用半导体集成电路必须满足长期贮存、随时可用和能用的要求。加速贮存寿命试验作为可靠性试验的一个重要组成部分，是评价，控制、提高集成电路贮存寿命的常用方法。简要介绍了加速贮存寿命试验的概念及方法，从实际操作角度比较了各种方法的优点、缺点，并对其应用情况做了介绍。
半导体集成电路贮存寿命加速试验技术
【摘 要】
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军用半导体集成电路必须满足长期贮存、随时可用和能用的要求。加速贮存寿命试验作为可靠性试验的一个重要组成部分，是评价，控制、提高集成电路贮存寿命的常用方法。简要介绍了加速贮存寿命试验的概念及方法，从实际操作角度比较了各种方法的优点、缺点，并对其应用情况做了介绍。
【机 构】
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中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060 西安电子科技大学微电子学院,西安 7100
【出 处】
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第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议
【发表日期】
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2011年7期
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