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本文利用X射线粉末衍射仪收集了1999年刘建明博士提供的按x=3.0,2.5,2.0,1.5,1.0,0.5,0.0的成分配比合成的Sb2(Sx,Se3-x)系列粉末样品(7个)和一个天然辉锑矿样品(含少量石英)(中国科学院地质与地球物理研究所陈列馆馆藏)的粉末衍射数据,利用DBWS-9807a4)程序进行了Rietveld分析研究.