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边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法，它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案，极大地方便了系统电路的测试。自从1990年2月JTAG与IEEE标准化委员会合作提出了“标准测试访问通道与边界扫描结构”的IEEE1149．1-1990标准以后，边界扫描技术得到了迅速发展和应用。JTAG指令处理器是边界扫描电路的核心部件，在对TAP控制器的仿真验证同时，讨论JTAG相关指令与边界扫描测试方式。