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太赫兹频段下导体表面的细微结构、粗糙度等细节将对目标电磁散射行为产生影响。为衡量这一影响程度，以圆柱导体为例研究了太赫兹频段下目标表面不同结构特征的电磁散射现象及其在图像域的表现规律。利用高频电磁计算方法获得了表面分别为理想光滑、带刻痕和周期粗糙的三种圆柱多姿态角、多频点单站散射场；基于转台成像算法重建了小转角下目标的二维图像。从仿真结果可以看出：μm量级的细节特征在太赫兹雷达图像上有着显著的表现，表明太赫兹雷达能够获取更加丰富和精细的目标信息，从而为目标探测识别提供新的特征和技术手段。