【摘 要】
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结合特定应用下数字信号处理器单粒子功能故障的产生机理和表征模式,定义了单粒子功能性瞬态故障的概念,提出了利用数字信号处理器内部存储区数据位翻转截面和数据位缓存时间有效占比预估功能性瞬态故障截面的方法.在西安200 MeV质子应用装置上开展了 TMS320C6455型数字信号处理器质子辐照实验,对预估方法的有效性进行了验证.实验得到了被测器件的功能性瞬态故障截面和内部存储区数据位翻转截面,并利用预估方法计算得到被测器件功能性瞬态故障截面预估值,实验结果与预估值相对偏差小于5％.
【机 构】
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火箭军工程大学,西安710025;强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室,西安710024;西北核技术研究所,西安710024;火箭军工程大学,西安710025;强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室
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结合特定应用下数字信号处理器单粒子功能故障的产生机理和表征模式,定义了单粒子功能性瞬态故障的概念,提出了利用数字信号处理器内部存储区数据位翻转截面和数据位缓存时间有效占比预估功能性瞬态故障截面的方法.在西安200 MeV质子应用装置上开展了 TMS320C6455型数字信号处理器质子辐照实验,对预估方法的有效性进行了验证.实验得到了被测器件的功能性瞬态故障截面和内部存储区数据位翻转截面,并利用预估方法计算得到被测器件功能性瞬态故障截面预估值,实验结果与预估值相对偏差小于5％.
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