【摘 要】
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为解决复杂环境下半导体器件的贮存可靠性评估问题,结合半导体器件的贮存失效机理及其寿命-应力模型,提出了基于多贮存应力加速寿命试验的半导体器件贮存可靠性评估方法。在
【机 构】
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西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室,中国电子科技集团公司第二十四研究所,工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,
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为解决复杂环境下半导体器件的贮存可靠性评估问题,结合半导体器件的贮存失效机理及其寿命-应力模型,提出了基于多贮存应力加速寿命试验的半导体器件贮存可靠性评估方法。在此基础上,以某款中频对数放大电路为研究对象,通过对加速寿命试验结果的分析,获得了电路在规定贮存时间下的可靠度。
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