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意法半导体(ST)宣称其所开发的rSRAM技术将在不过多增加芯片制造成本的前提下,有效消除嵌入式SRAM“软错误”对于电子设备可能造成的不良影响.
新架构SRAM消除“软错误”威胁
【摘 要】
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意法半导体(ST)宣称其所开发的rSRAM技术将在不过多增加芯片制造成本的前提下,有效消除嵌入式SRAM“软错误”对于电子设备可能造成的不良影响.
【出 处】
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电子设计技术
【发表日期】
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2004年2期
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