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吴汉明院士对“后摩尔时代的芯片挑战和机遇”思考
吴汉明院士对“后摩尔时代的芯片挑战和机遇”思考
来源 :电子产品世界 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lyd936
【摘 要】
:
在“2021世界半导体大会暨南京国际半导体博览会”高峰论坛上,中国工程院院士、浙江大学微纳电子学院院长吴汉明做了报告,共5个部分:摩尔定律已走到尽头;集成电路产业离不开全球化;制造工艺方面有三大挑战;后摩尔时代的芯片技术趋势;倡导树立以产业技术为导向的科技文化。
【作 者】
:
迎九
【机 构】
:
《电子产品世界》
【出 处】
:
电子产品世界
【发表日期】
:
2021年7期
【关键词】
:
集成电路产业
中国工程院院士
摩尔定律
芯片技术
汉明
挑战和机遇
制造工艺
三大挑战
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在“2021世界半导体大会暨南京国际半导体博览会”高峰论坛上,中国工程院院士、浙江大学微纳电子学院院长吴汉明做了报告,共5个部分:摩尔定律已走到尽头;集成电路产业离不开全球化;制造工艺方面有三大挑战;后摩尔时代的芯片技术趋势;倡导树立以产业技术为导向的科技文化。
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