微量铊的光谱法直接测定

来源 :理化检验.化学分册 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hanwenqian
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铊量的存在对寻找金矿有一定的指示作用,但分析痕量铊的方法文献虽有较多报道,不过采用发射光谱法直接测定还不多见。作者在碳酸岩微量元素测定的基础上,对缓冲剂、蒸发与激发的最佳条件等作了进一步的试验,并拟定以硅粉,碳酸钙、碳粉,六次甲基四胺、过碘酸钾和硫磺粉的混合物为缓冲剂,深孔电极装样,交流电弧激发作碳酸岩化探样品、水系沉积物和黄铁矿石中微量铊的直接光谱摄谱分析方法。其最低定量分析值为1ppm,相对标准偏差为11.6%。 The presence of thallium has some indication to the gold prospecting. However, there are many reports on the methods for the analysis of trace thallium, but the direct determination by emission spectroscopy is rare. On the basis of the determination of trace elements in carbonate rocks, the authors made further tests on the optimum conditions of buffer, evaporation and excitation, etc., and made a proposal that silicon powder, calcium carbonate, carbon powder, hexamethylenetetramine, iodine The mixtures of potassium and sulfur powders were used as buffers, deep-hole electrode samples and AC arc excitation for the direct spectroscopic analysis of trace amounts of thallium in carbonate geochemical exploration samples, aqueous sediments and pyrite. The lowest quantitative analysis of 1ppm, the relative standard deviation of 11.6%.
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