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独立原予模型IAM(Independent Atomic Model)和可加性规则AR(Additivity Rule)是一个很好的适用于电子与分子中高能正碰撞的有效方法.但是现用的AR对于电子与分子散射的截面计算明显高估了实际值.本文通过从分子的外部特征出发,考虑到屏蔽效应与分子本身的特征和入射电子能量的关系,在GAR和EGAR模型的基础上提出新的EGAR模型,在新的EGAR模型中分子的特点得以体现,可使可加性规则更合理地运用于中高能区的电子-分子散射.