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74μm(200目)样品粒度是当今地质分析的一项重要技术基础.文中从实践角度指出了现代地质分析技术对样品粒度的新需求,并由地质分析样品粒度演化的历史说明了随着分析技术的不断进步,分析样品粒度阶梯性减小的趋势.从而认为应不失时机地研制超细粒度的地质标准物质,为研究超细样品条件下的分析技术奠定物质基础、提供评价依据.为此采用超细粉碎技术制备了一套具有超细粒度的海洋沉积物标准物质系列;并给出了以超细样品粉末直接压片制样,用X射线荧光法精确测定了海山磷块岩中包括C,F,Cl,Br和I在内的主、次、痕量共32个元素