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基于JTAG的SoC芯片调试系统设计
基于JTAG的SoC芯片调试系统设计
来源 :电子与封装 | 被引量 : 0次 | 上传用户:luoch668
【摘 要】
:
文章提出了一种基于IEEE1149.1JTAG协议的SoC调试接口,该设计支持寄存器查看和设置、CPU调试、IP核调试、边界扫描测试等功能。对该接口的整体结构框图到设计都进行了详细的阐
【作 者】
:
虞致国
魏敬和
【机 构】
:
中国电子科技集团公司第58研究所
【出 处】
:
电子与封装
【发表日期】
:
2007年7期
【关键词】
:
系统芯片
JTAG
调试接口
扫描链
System-on-Chip JTAG debug interface scan test
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文章提出了一种基于IEEE1149.1JTAG协议的SoC调试接口,该设计支持寄存器查看和设置、CPU调试、IP核调试、边界扫描测试等功能。对该接口的整体结构框图到设计都进行了详细的阐述。该接口成功地应用于测控SoC中,具有很好的参考价值。
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