论文部分内容阅读
微电子器件的发展趋势是大规模、超大规模集成电路,集成度越来越高,芯片上功能元件的尺寸越来越小。在超大规模集成电路制造技术的推动下,电子电路的处理能力和复杂程度成倍地提高,与现在诊断能力形成了尖锐的矛盾,在这种情况下,大量的科研机构都加入到电路故障诊断的研究中来。本文介绍了模拟电路故障诊断的常规方法和模式识别方法。