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电子产品电磁兼容试验是检验电子产品抗扰度的重要举措,也是现代电子设备研究的重点和难点。本文以电磁兼容抗扰度试验为主要研究对象,针对试验期间的核查工作,进行了多层次、多内容、多论述的分析和探索,并结合多年的电磁兼容科研和实践经验,详细分析了静电放电抗扰度试验、冲击抗扰度试验、静电快速瞬间脉冲群抗扰度试验等一系列问题,以助力本领域和相关领域的科研探索和未来发展。