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目的:研究不同方式电刺激对大鼠脑梗死后突触界面结构的影响.方法:成年健康Wisdar大鼠50只,采用线栓法建立大脑中动脉缺血动物模型,造模成功30只随机分为对照组、患侧电刺激组和双侧电刺激组各10只.应用透射电镜射像及图像分析技术观察电刺激对脑梗后突触形态及其结构参数的变化.结果:患侧电刺激组与对照组相比:突触间隙宽度[(25.84±3.49)nm]明显变窄(P＜0.01),突触后致密质[(57.13±10.29)nm]显著增厚(P＜0.01),活性区长度[(314.36±24.92)nm]明显延长(P＜0.01),突触界面曲率[(1.145±0.160)nm]无显著性意义(P＞0.05);双侧电刺激组与患侧电刺激相比:突触间隙宽度[(21.91±3.72)nm]明显变窄(P＜0.01),突触后致密质[(70.15±11.82)nm]显著增厚(P＜0.01),活性区长度[(329.79±20.44)nm]无显著性意义(P＞0.05),突触界面曲率(1.252±0.166)明显变大(P＜0.05);双侧电刺激与对照组相比:突触间隙宽度明显变窄(P＜0.01),突触后致密质显著增厚(P＜0.01),活性区长度明显延长(P＜0.01),突触界面曲率明显变大(P＜0.01)).结论:电刺激能够促进突触重建,双侧电刺激效果更加明显.