2. 您的位置
3. 首页
4. 期刊论文
5. 泰克在富士康仪器设备展和研讨会上展示最新的高速串行测试解决方案

泰克在富士康仪器设备展和研讨会上展示最新的高速串行测试解决方案

来源 :国外电子测量技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户：power400ljf

【摘 要】

：

泰克公司在2010年1月29日-30日举行的富士康仪器设备展和研讨会上展示了最新的高速串行测试解决方案。此次展览在富士康深圳工业园区举办，并同期开设了热门解决方案专题讲座。

【出 处】

：

国外电子测量技术

【发表日期】

：

2010年3期

【关键词】

：

测试解决方案 仪器设备 泰克公司 富士康 串行 工业园区 专题讲座 

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文 赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

泰克公司在2010年1月29日-30日举行的富士康仪器设备展和研讨会上展示了最新的高速串行测试解决方案。此次展览在富士康深圳工业园区举办，并同期开设了热门解决方案专题讲座。有将近一千位富士康的各级员工参加了这次活动。

其他文献