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基于液晶具有光学单轴晶体的性质,结合阿贝折射仪测出了方位折射率,利用反射椭偏消光法测量原理解决了在多层介质膜上液晶吸附层厚度测量问题.利用这种方法测量了经过摩擦取向处理的高分子取向膜表面的液晶薄层厚度.实验发现,经过不同摩擦强度处理后的取向膜吸附液晶薄层的厚度为54 nm±3 nm.
摩擦取向膜表面液晶薄层厚度的研究
【摘 要】
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基于液晶具有光学单轴晶体的性质,结合阿贝折射仪测出了方位折射率,利用反射椭偏消光法测量原理解决了在多层介质膜上液晶吸附层厚度测量问题.利用这种方法测量了经过摩擦取
【机 构】
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中国科学院激发态开放研究实验室
【出 处】
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真空科学与技术
【发表日期】
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2003年6期
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