CuO/SiO2复合薄膜的微观结构和发光特性分析

来源 :无机材料学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：yuhaolf

【摘要】

：

采用射频磁控共溅射法在硅衬底上沉积Cu/SiO2复合薄膜,然后在N2保护下高温退火,再于空气中自然冷却氧化,制备出低维CuO纳米结构,并对其微观结构和光致发光进行研究.退火温度

【作者】

：

石锋李玉国孙钦军

【机构】

：

山东师范大学物理与电子科学学院

【出处】

：

无机材料学报

【发表日期】

：

2009年2期

【关键词】

：

射频磁控共溅射法 CuO/SiO2复合薄膜微观结构光致发光特性 radio frequency magnetron co-sputtering cupri

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采用射频磁控共溅射法在硅衬底上沉积Cu/SiO2复合薄膜,然后在N2保护下高温退火,再于空气中自然冷却氧化,制备出低维CuO纳米结构,并对其微观结构和光致发光进行研究.退火温度为1100℃时样品中主晶相为立方晶系的CuO（200）晶面,薄膜样品表面出现纳米线状结构,表面组分主要包括Cu、O元素,冷却氧化形成CuO/SiO2复合薄膜.该温度下退火后,光致发光谱中出现紫外光和紫光,这是由于复合薄膜中CuO的导带底到Cu空穴缺陷能级的跃迁导致的.

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