论文部分内容阅读
利用模拟美国国家点火装置（NIF）终端光学组件光路排布的检测平台，测试了熔石英光学元件表面不同尺寸、不同密度修复坑对光束焦斑能量所造成的影响。实验结果表明，在修复坑密度较小时，能量损失率和修复坑密度呈线性相关，密度达到一定值后则达到饱和，修复坑尺寸对能量损失率随密度的增长速度造成影响，修复坑尺寸越大，能量损失率随密度的增长越快。按照NIF装置3％束间功率平衡的技术指标，要求修复坑密度必须控制在2cm^-2以下。