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利用频率依赖电容谱的测量,对于SiO2/硅量子点/SiO2/硅衬底隧穿电容中硅量子点的荷电特征进行了研究.由于量子点的极小尺寸和良好的均匀性,室温下在强反型区成功地观察到了与单电子隧穿相关的两个电容和电导共振峰,它们分别对应于硅衬底导带上的电子与量子点中第一与第二个基态之间直接隧穿过程.实验数据分析给出了量子点中的库仑荷电能,并进行了讨论.