【摘 要】
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研究了铜基引线框架基体表面性质对镀锡层的影响。扫描电镜（SEM）和X射线衍射（XRD）分析结果表明：镀层外观由其结晶结构决定。采用X射线光电子能谱（XPS）研究了铜基引线框架表面性质的
【机 构】
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长春工业大学化工学院,上海新阳半导体材料股份有限公司
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研究了铜基引线框架基体表面性质对镀锡层的影响。扫描电镜（SEM）和X射线衍射（XRD）分析结果表明：镀层外观由其结晶结构决定。采用X射线光电子能谱（XPS）研究了铜基引线框架表面性质的影响。结果表明：引线框架表面铜的氧化状态对于最终所得镀锡层的性质有很大影响,当引线框架表面存在大量的CuO时,得到的镀锡层易于出现发黑等质量缺陷。研究了相应的解决方法,对于因基体表面性质引起的镀层发黑等质量问题,可以通过加强镀前去氧化解决,也可以通过增强添加剂的极化作用予以改善。
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