论文部分内容阅读
随着微电子技术的不断发展，复杂逻辑器件大量应用到武器装备电路板上，电路板结构功能日趋复杂。与此同时，芯片集成度的大幅提高使得外部可接触的引脚越来越少，这就导致常规的测试方法无法实现对该类电路板的有效测试，电路板维修、检测问题日益突出。因此，在电子设备设计的开始阶段就采用可测性技术。针对含FPGA电路板，对基于DFT的测试方法进行了研究。