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虚警率较高是制约机内测试（Built-in Test，BIT）技术发展与应用的关键问题之一．为降低虚警率，从BIT系统的信息处理流程和虚警率的数学模型两方面分析了传感层不确定性对虚警率的影响，阐述了基于传感器系统可靠性模型的传感层动态不确定性分析和计算方法；在BIT系统中嵌入传感数据证实模块，提出了传感层反馈型BIT系统模型；对新模型和原模型的输出数据不确定性及虚警率进行了分析和验证．结果表明：传感层反馈型BIT系统模型可以有效降低传感层输出数据的不确定性和虚警率．