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依据椭圆偏振法测定透明薄膜的有关数据,运用C程序语言,通过迭代程序设计,由计算机同时计算出薄膜厚度和折射率.结果表明:薄膜折射率和厚度的测定误差分别小于0.2%和1nm.并克服了TP-77型椭偏仪只能用于n≤2.6透明材料测定的限制,实现了对诸如多晶硅等薄膜厚度和折射率的精确测定.这对高折射率材料薄膜的研究和开发具有现实的意义.