Dielectric Properties and Defect Structure of Bi—doped SrTiO3 Ceramics

来源 :半导体光子学与技术：英文版 | 被引量 : 0次 | 上传用户：wuhanchi

【摘要】

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The dielectric properties of ceramics with composition of (Sr1-xBix)TiO3+x/2(where x=0.05～0.70 ) were measured at frequency of 1 MHz. The experimental results in

【作者】

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HUANGMin ZHAOWei－zhong

【机构】

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Dept.ofPhys.

【出处】

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半导体光子学与技术：英文版

【发表日期】

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2001年1期

【关键词】

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SRTIO3 绝缘陶瓷结构缺陷正电子消除 Dielectric ceramics Defect structure Positron annihilat

【基金项目】

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国家自然科学基金

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The dielectric properties of ceramics with composition of (Sr1-xBix)TiO3+x/2(where x=0.05～0.70 ) were measured at frequency of 1 MHz. The experimental results indicate that the dielectric properties of (Sr1-xBix)TiO3+x/2 system are greatly varied with an

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