一种有效的系统芯片串扰故障激励检测模型

来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ywh831002
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目前的系统芯片(SOC)制造技术已经进入了深亚微米时代,由于系统芯片内部信号传输线发生串扰而导致系统功能失效的串扰故障问题不容忽视.文中在对系统芯片中信号传输线的串扰产生性质进行深入研究的基础上,提出一种简单有效的系统芯片串扰故障激励检测模型--基于搜索的MAF模型.对使用这种串扰故障激励模型的效率和已有的MAF模型进行了对比.结果显示:在串扰较弱时,其所需的检测矢量数和已有的MAF模型相当;而在串扰较严重时,这种新的串扰故障激励检测模型只需较少的激励检测矢量即可以完成对所有串扰故障的激励检测.
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