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2001年4月20日笔者接到一封来自台湾欧斯得公司的电子邮件,邀请笔者参加S TEAGETA-Optik公司于4月23日在清华大学举办的"光学及物理特性应用于检测膜厚之原理"的技术研讨会.笔者如期来到北京,并在研讨会召开的当天采访了来自德国STEAG ETA-Optik公司的Rolf W.Hertling博士.