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汽车相关晶片的低温探针测试是近段时期的半导体测试行业的主要发展方向,封装之前,通过探针台模拟客户低温使用环境,尽早的筛查出不良品,节约芯片封装成本。同时低温探针测试增加了关键参数的控制难度,overdrive随温度变化不断变化,本文就低温测试overdrive这一关键参数的控制浅谈一二。