光折变晶体两波耦合增益系数强度特性理论研究

来源 :光学精密工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zz121961437
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对两中心模型光折变晶体两波耦合增益系数Γ,总的有效陷阱密度N eff和强度特性因子η(I)的强度特性进行了理论研究。结果显示在 两中心模型的光折变晶体中,Γ,Neff和η(I)有着复杂的特性。当SDγT/ST γD小时 ,对于A类和B类两中心晶体,Neff随强度的增加 而增加最终趋于饱和,当SDγT/STγD大时,对于A类晶体Neff增加到一个最 大值后稍 有减少,而对于B类晶体,Neff增加到最大值后 然而有较大的减少。 不同类型晶体增益系数Γ有着不同的强度特性是由于晶体中有着不同的能级结构。
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