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本文介绍了一种测量荧光寿命的新方法：利用荧光衰减曲线和RC电路衰减曲线合成李萨如图形来测量固体荧光材料的荧光寿命。文中阐述了荧光寿命的测试原理，对激励光源、供电的脉冲电源和光电转换器进行了分析．用所设计的荧光寿命观测系统对Nd：YAG晶体的荧光寿命进行了测量，得到的数值为230ns，与理论值相等。