碱金属硒化物MHgSbSe3(M=K,Rb,Cs)的晶体结构及其半导体性质的研究

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用有机溶剂热生长技术(Solvothermal Technique)制备碱金属硒化物MHgSbSe3(M=K,Rb,Cs),用单晶X射线衍射技术对其进行晶体结构分析。热分析结果表明,在常温(〈200℃)下均为稳定的化合物。光学性质测试表明它们是半导体材料,KHgSbSe3,RbHgSbSe3,CsHgSbSe3的禁带宽度依次为1.85eV,1.75eV,1.65eV。
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