硅含量对真空熔炼电阻靶材和电阻薄膜性能的影响

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采用真空熔炼方法研制新型溅射用高阻靶材,并试验靶材含硅量对溅射电阻薄膜性能的影响。 A new type of high resistance sputtering target for sputtering was developed by vacuum melting method and the effect of target silicon content on the properties of sputtering resistance film was tested.
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