【摘 要】
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研究了（0．4-X）PbO-xFe2O3-0．6P2O5半导体玻璃的电导性能。首先熔制了SF系列玻璃，测定了玻璃的氧化还原指数和电导率，并计算了铁离子浓度和铁离子的平均距离。讨论了玻璃组成、熔制
【机 构】
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华东理工大学材料科学与工程学院,复旦大学信息科学与工程学院
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研究了（0．4-X）PbO-xFe2O3-0．6P2O5半导体玻璃的电导性能。首先熔制了SF系列玻璃，测定了玻璃的氧化还原指数和电导率，并计算了铁离子浓度和铁离子的平均距离。讨论了玻璃组成、熔制条件以及氧化还原指数对电导的影响，揭示了它们的电导性质不仅与组成有关，而且与铁离子的氧化一还原状态有关。随着熔制温度的升高，氧化还原指数提高，从而使电导增加。研究表明，该半导体玻璃的电导机制符合Mott的小极化子跳跃理论。
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