侵彻过载高速存储测试的研究与实现

来源 :太赫兹科学与电子信息学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wangold
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针对混合型单片机应用中数据捕获率不足问题,在分析其机理及原因基础上,采用外置高速模数转换器(A/D)与单片机的串行通用接口(SPI)构成串行采集存储结构.利用单片机所提供的时钟源将数据捕获率由200 ksps 提高到780 ksps,在此基础上提出了三轴过载测量总体方案.研究结果表明,通过提高SPI 总线时钟速率,可将数据捕获率进一步提高到2.5 Msps,这将作为今后的研究方向.
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